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    影響RFID系統測試性能的若干因素

    2021-01-19 15:00:25 admin

    UHF RFID的系統由RFID讀寫器、RFID天線、RFID標簽組成,具體如上圖所示,影響系統測試性能的因素主要有以下幾點:

    1. 讀寫器發射功率

         讀寫器發射功率越大,讀寫距離相應地也會增大。

    2.讀寫器天線增益和波束寬度

    天線增益越大,波束寬度越小,則讀寫距離越遠,范圍越窄,讀取的范圍控制越好。

    3.讀寫器和標簽的靈敏度

    標簽芯片與讀寫器的靈敏度均能影響到讀寫距離,靈敏度越高,可讀寫距離就會越遠。

    4. 多標簽數量

    多標簽環境下,單位時間內RFID讀取的標簽數量也會影響到讀寫器的多標簽讀寫性能。

    5.讀寫器對碰撞問題的處理算法

    一般來說,標簽存在以下兩種碰撞問題:

     

    1、多標簽碰撞:多個標簽與一個讀寫器通訊時產生的碰撞,出現此種情況時可以通過調整讀寫器自身的防碰撞算法來解決。

     

    2. 多讀寫器碰撞:多個讀寫器同時與一個標簽通訊時產生的碰撞,通過將讀寫器設置成不同的session(通話)和標簽進行通信或者測試時關閉其他讀寫器即可解決。

    6.標簽粘貼物材質

    金屬和液體會對電磁波產生影響,需要采用特殊設計的抗金屬標簽和抗液體標簽。

    7. 測試環境

    RFID性能測試建議在空曠的環境中進行,讀寫器天線與標簽之間存在金屬或液體之類的障礙物、環境中存在與頻率接近的電磁干擾等都會影響測試性能。

    首先要確認測試環境中是否有金屬障礙物干擾,如金屬網,密集的金屬網會對UHF信號產生屏蔽作用,造成較大衰減,導致無法讀取標簽信息。

    其次,如果在貨物滿倉的庫房中則需要考慮貨物性質(金屬、液體、服裝等)是否會影響電磁波,也需要避免多層堆放,同時RFID設備應與其他物品保持距離,避免串讀。

    以上是影響RFID系統測試性能的若干因素,如果您在測試過程中遇到性能受影響的情況,不妨對照檢查,希望能讓您的RFID測試過程更加順暢!

     

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